為PXI系統(tǒng)提供精確的電壓或電流源以及測量功能。

PXI源測量單元(SMU)將高精度源和測量能力與旨在減少測試時間、增加靈活性的特性相結(jié)合。這些特性包括用于構(gòu)建并行SMU測試系統(tǒng)的高通道密度、用于最小化軟件開銷的確定性硬件序列以及用于快速改變設(shè)定值和采集數(shù)據(jù)的高速更新和采樣率。此外，PXI SMU靈活的采樣率和流盤能力允許您將儀器當(dāng)做數(shù)字化儀使用，以捕獲瞬態(tài)行為，而數(shù)字控制循環(huán)則使您能夠調(diào)整儀器的瞬態(tài)響應(yīng)。改變SMU瞬態(tài)特性的能力（稱為SourceAdapt）降低了SMU穩(wěn)定時間，并且即使在高容性負載情況下，也可最小化過沖和振蕩。

PXIe，±200 V，3 A，10 fA精密PXI源測量單元—PXIe-4135是一款高精度系統(tǒng)源測量單元(SMU)。該設(shè)備采用四象限運行模式，可提供高達20 W的直流電源，并可產(chǎn)生高達500 W的脈沖。結(jié)合模數(shù)轉(zhuǎn)換器技術(shù)和原生三軸連接器，該設(shè)備可以以10 fA的電流分辨率或1.8 MS/s的高速采集速率進行高精度測量。該模塊還采用了SourceAdapt技術(shù)，可根據(jù)負載的特性來調(diào)整瞬態(tài)響應(yīng)，從而最大限度地提高穩(wěn)定性和測量精度。PXIe-4135是許多應(yīng)用的理想選擇，包括集成電路(IC)、電源管理集成電路(PMIC)和射頻集成電路(RFIC)等器件以及LED和光收發(fā)器等分立元件的實驗室特性分析、制造測試、板卡級測試。